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赛默飞(原FEI)Glacios 冷冻透射电镜
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赛默飞(原FEI)Selectris和Selectris X成像过滤器
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赛默飞(原FEI)Quattro
Thermo Scientific™ Quattro™ 将成像和分析的全面性能与独特的环境模式(ESEM)相结合,使得样品研究得以在自然状态下进行。如今,研究型实验室普遍要求现代的扫描电子显微镜可以
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赛默飞(原FEI)Volumescope 2
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赛默飞(原FEI)ELITE 系统
消除了使用有损方法时意外遗漏故障的风险。此外,ELITE 系统可与其他无损技术(例如扫描声学显微镜 (SAM) 或二维和三维 X 射线技术)相结合,通过传递故障位置的精确 x、 y 和 z 坐标,加快
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赛默飞(原FEI)Explorer 4 Analyzer
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率
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赛默飞(原FEI)Glacios 冷冻透射电镜
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赛默飞(原FEI)Talos F200X S/TEM 透射电镜
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赛默飞(原FEI)Scios 2 DualBeam 透射电镜 TEM
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系统,可为的最广泛类型的样品,包括磁性和不导电材料提供出色的样品制备和三维表征性能。
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